標準版溫度循環(huán)試驗機冷熱沖擊試驗箱

標準版溫度循環(huán)試驗機冷熱沖擊試驗箱

參照標準

本試驗箱符合GB/T2423.1 低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法。
GJB 150.3高溫試驗；GJB 150.4 低溫試驗；
GB10588-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件；
GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標準中所要求的試驗

標準版溫度循環(huán)試驗機冷熱沖擊試驗箱

 高溫槽溫度范圍：+60 ~200℃.

低溫槽溫度范圍：-10℃~-70℃

實(shí)驗箱沖擊溫度：高溫 +60～150℃.低溫 (-10～ -40℃)

高低溫轉換時(shí)間：≤10S

高低溫恢復時(shí)間：3~5min（非線(xiàn)性空載下）

控制精度：溫度±0.2℃（指控制器設定值和控制器實(shí)測值之差）

溫度波動(dòng)度：≤0.5℃（溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測高溫度和低溫度之差的一半）

溫度誤差：≤±1℃（工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點(diǎn)實(shí)測的平均溫度）

溫度均勻度：≤2.0℃（溫度均勻度為每次測試中實(shí)測高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）

預熱區升溫速度： ≥3℃/min（非線(xiàn)性）

預冷區降溫速度： ≥2℃/min（非線(xiàn)性）

執行與滿(mǎn)足的標準

GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本試驗規程試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本試驗規程試驗B：高溫試驗方法

GJB360.7-87 溫度沖擊試驗

SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗機

溫度范圍：-40℃---10℃~60℃-150℃/-70℃---10℃~60℃-150℃

數碼測試高低溫廠(chǎng)家箱|50L冷熱沖擊試驗箱設備|兩箱式溫沖測試箱產(chǎn)品結構：

試驗箱結構形式：試驗箱采用整體式組合結構形式，既試驗箱由位于上部的高溫試驗箱，位于下部的低溫試驗箱體、位于后部的制冷機組柜和位于左側后板上的電器控制柜（系統）所組成。此方式箱體占地面積小、結構緊湊、外形美觀(guān)，制冷機組置于獨立的機組箱體內，以減少制冷機組運行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對試驗箱的影響，同時(shí)便于機組的安裝和，電器控制面板置于試驗箱的左側板上以便于運行操作。